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X射線熒光光譜分析作為一種快速、簡便且無損的檢測技術(shù)，在眾多行業(yè)的元素分析領(lǐng)域被廣泛應(yīng)用，但其儀器的名稱應(yīng)該是EDS，XRF還是EDX呢？EDS是能譜儀（EnergyDispersiveSpectrometer）的英文縮寫，通常用于配合掃描電子顯微鏡，是電子束微束分析技術(shù)中應(yīng)用極為廣泛的儀器。但因其英文縮寫與能量色散型X射線熒光光譜儀（EDX)頗為相似且同樣用于材料的元素含量分析，故二者容易被混淆。XRF是X射線熒光光譜儀（X-RayFluorescenceSpectrome...

ROHS檢測儀主要采用X射線英光光譜儀(XRF)技術(shù)進(jìn)行檢測，該技術(shù)又可分為能量色散型(EDXRF)和波長色散型(WDXRF)。其中，能量色散型因其技術(shù)原理及結(jié)構(gòu)相對簡單，在市場上較為常見。其技術(shù)原理簡述如下：放射性同位素源或X射線發(fā)生器：放出的X射線與樣品中元素的原子相互作用，逐出原子內(nèi)層電子。特征X射線：當(dāng)外層電子補(bǔ)充內(nèi)層電子時(shí)，會(huì)放射出該原子所固有能量的X射線，即特征X射線。定性與定量分析：不同元素特征X射線能量各不相同，依此進(jìn)行定性分析；再根據(jù)特征X射線強(qiáng)度大小進(jìn)行定...

ROHS分析儀是一種專門用于檢測電子電氣產(chǎn)品中是否含有有害物質(zhì)的設(shè)備。一、基本原理ROHS分析儀的基本原理是利用X射線熒光光譜法（XRF）或氣相色譜-質(zhì)譜聯(lián)用法（GC-MS）等分析方法，對樣品中的有害物質(zhì)進(jìn)行定量檢測。X射線熒光光譜法（XRF）：XRF是一種非破壞性的分析方法，通過高能X射線激發(fā)樣品中的元素，使其產(chǎn)生特征熒光。通過測量這些熒光的強(qiáng)度，可以計(jì)算出樣品中各元素的含量。這種方法適用于固體、液體和粉末樣品的檢測。氣相色譜-質(zhì)譜聯(lián)用法（GC-MS）：GC-MS是一種將氣...

為了確保電子產(chǎn)品的環(huán)保安全性，ROHS2.0（限制在電子電器產(chǎn)品中使用某些有害物質(zhì)的指令）應(yīng)運(yùn)而生。而ROHS2.0十項(xiàng)檢測儀則是這一指令的重要執(zhí)行工具。如何高效地使用這款儀器，不僅關(guān)系到檢測的準(zhǔn)確性，更關(guān)乎企業(yè)的生產(chǎn)效率。一、熟悉儀器結(jié)構(gòu)與功能先使用者需要深入了解ROHS2.0十項(xiàng)檢測儀的結(jié)構(gòu)組成及各部件的功能。這包括X射線發(fā)生器、探測器、顯示器等關(guān)鍵部分。只有明確了每個(gè)部件的作用，才能更好地進(jìn)行操作。二、嚴(yán)格遵循操作規(guī)程在使用儀器前，務(wù)必仔細(xì)閱讀并熟悉操作規(guī)程。任何違反規(guī)...

多元素分析儀是一種能夠同時(shí)測量樣品中多種元素含量的高效化學(xué)分析儀器。它的應(yīng)用領(lǐng)域廣泛，包括冶金、機(jī)械、化工、環(huán)境監(jiān)測、農(nóng)業(yè)、生物醫(yī)學(xué)、地質(zhì)以及材料科學(xué)等多個(gè)行業(yè)。E-lite多元素分析儀采用高精度X射線熒光分析技術(shù)(HPXRF)。與傳統(tǒng)的X射線熒光技術(shù)相比，該技術(shù)使用了先進(jìn)的雙曲面彎晶晶體，降低背景噪聲，大幅提高信噪比，提高產(chǎn)品分析精度。E-lite分析儀可在廣泛的測量范圍進(jìn)行高精度硫含量分析。E-lite除了能夠進(jìn)行硫分析之外，還可以快速檢測從鎂到鈣元素，尤其適用于ppm級...