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描述:WDX400地質波長色散熒光多元素分析儀可配置10個固定分光道,同時分析10種元素。根據(jù)用戶的應用要求可配置為從Na到U 任意十種元素。標準配置為Na、Mg、Al、Si、S、Cl、K、Ca、Fe、P或Ti(可選)十種元素,是大中型企業(yè)質量控制的理想選擇。
廠商性質
經銷商更新時間
2024-04-30訪問量
568品牌 | SKYRAY/天瑞儀器 | 行業(yè)專用類型 | 通用 |
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元素分析范圍 | Na-U | 價格區(qū)間 | 50萬-100萬 |
儀器種類 | 臺式/落地式 | 應用領域 | 環(huán)保,石油,地礦,能源,冶金 |
一、WDX400地質波長色散熒光多元素分析儀性能特點:
1.粉體樣品或塊樣品快速,非破損分析。
2.可快速分析粉末壓片,玻璃熔片和塊狀物料。
3.采用多路數(shù)字MCA實時檢測,大大提高元素檢測效率譜峰,不僅便于儀器調試和故障診斷,并可進一步提高儀器的分析精度和穩(wěn)定性。
4.配置充氦裝置后可以分析液體樣品或易揮發(fā)性固體樣品。
5.與順序型大功率儀器相比較有如下優(yōu)點:
a、在較小功率和測定時間基本相當?shù)那闆r下即可達到足夠的分析精度。
b、延長X光管使用壽命。
c、減少高壓電源故障。
d、降低整機維修成本。
e、采用固定通道,無測角儀磨損問題。
二、WDX400地質波長色散熒光多元素分析儀技術指標:
高壓電源:400W(50kv/8mA)。
X射線管:Varian公司生產的400W薄鈹窗端窗X射線管,Rh靶(Pd靶可選)。
管壓管流12小時穩(wěn)定度:優(yōu)于0.05%。
分析元素種類:從Na到U的任意十種元素。
探測器:流氣正比探測器+封閉正比探測器,10路1024道獨立脈沖高度分析器。
真空系統(tǒng):獨立泵站結構,易于維護。
測量室真空度:低于5Pa。
流氣系統(tǒng):高精度流氣密度穩(wěn)定裝置,壓力穩(wěn)定度達到±0.003KPa。
前主放:高速前主放電路,大大提高儀器的探測效率,提高儀器的測量精度。
MCA多道:采用數(shù)字MCA多道幅度采集器,大大提高檢測效率。
交流220V供電設備:1KVA交流凈化穩(wěn)壓電流。
分析精度:σn-1(24小時,百分比含量)≤0.05%。
單個樣品測量時間:(含換樣抽真空時間)≤3~5分鐘。
恒溫室溫度控制精度:設定值±0.1℃。
三、應用領域:
建材(水泥、玻璃、陶瓷等)鋼鐵 有色金屬 礦業(yè) 地質 化工 石油 質量檢驗 商品檢驗
檢測原理:
物質樣品中有多種元素存在的情況下,當樣品受到X光管發(fā)出的初級X射線照射時,各種被測元素發(fā)出各自的特征X射線,統(tǒng)稱X熒光。將這些元素的特征X射線分開和檢測稱為X熒光的分光。
由于不同元素特征X射線的波長不同,根據(jù)布拉格公式采用晶體衍射技術即可將不同波長的X射線分光。此種分光方法稱作波長色散法。
布拉格公式:
2dSinθ=nλ……………………(1)
上式中d為分光晶體的晶面間距,θ為衍射角,λ為波長,n為衍射級數(shù)。一般情況下均檢測一級衍射線,即n=1。據(jù)此公式,分光晶體選定后(即2d已確定)對某一波長λ的某一元素的特征X射線,只有在符合上式的θ角可以檢測到,而其他元素的特征X射線由于其波長λ不符合上述公式,因此該θ角度方向檢測不到。分光晶體可以是平面晶體,此時采用平行板準直器將樣品的X熒光變成平行光投射到晶體上,稱作平行分光法;也可采用具有聚焦作用的曲面晶體(彎晶)進行分光,稱作聚焦分光法(尤其適合原子序數(shù)較小的輕元素)。圖1-2兩種分光系統(tǒng)的原理圖。
特征X射線的波長是與元素種類一一對應的,依靠波長色散將物質樣品X熒光中不同波長的特征X射線分開并檢測,就可以確定物質中含有哪些元素,實現(xiàn)物質中所含元素種類的定性分析。
另一方面,各元素特征X射線的強度(單位時間內特征X射線的光子數(shù))則與該樣品中各元素的百分含量成正比,即樣品中某元素含量愈高,則其發(fā)出的特征X射線的光子數(shù)/秒愈多,即滿足下述公式:
Ci=AiIi+Bi……………………(2)
其中Ci為第i種元素(或其化合物)的含量百分比,Ii為檢測到的該元素的特征X射線強度,常數(shù)Ai和Bi則通過標樣檢測制作工作曲線確定,Ai為工作曲線的斜率,Bi為工作曲線截距。用標樣制作工作曲線的過程稱作儀器的標定。標定過程中,對一組含量已知的標樣進行檢測,對某一元素i而言,標樣中該元素的含量Ci已知,特征X射線強度Ii通過分光檢測得到,測定若干個標樣后通過線性擬合,即可計算出(2)式中每種元素的工作曲線的斜率Ai和截距Bi。完成標定后,即可通過檢測未知樣品中各被測元素特征X射線的強度,根據(jù)(2)式計算出該未知樣品中各被測元素的含量,實現(xiàn)未知樣品的定量分析。
實際上,某一元素的特征X射線強度還受到其它元素原子的吸收和增強作用的影響,這種原子間的吸收和增強作用稱作基體效應。由于基體效應的存在,某一元素的特征X射線強度并非只與該元素的含量有關,也在一定程度上受到其它元素含量的影響,也就是說(2)式中的Ai、Bi并非常數(shù),公式(2)應修改成公式(3)
Ci=AijI+Bij………………(3)
其中Aij=Ai(k′ijCj+1)+Bi(k〞ijCj+1)………………(4)
公式(4)為一組多元一次聯(lián)立方程式,其中k′ij和k〞ij表示元素j對被測元素i的基體校應影響因子。為了求解(3)式和(4)式,經過國際X熒光分析界幾代人的努力,大致有以下幾種典型方法:
1. 經驗系數(shù)法:通過測定一定數(shù)量的一組標樣(該組標樣的元素含量應打破相關性),采用非線性最小乘法、神經網(wǎng)絡數(shù)學模型等各種多次疊代的數(shù)學方法求解,作出工作曲線。
采用經驗系數(shù)法的定量分析結果準確可靠,使用較為廣泛。但是為了提高儀器標定的準確性,一般需要較多的標樣,而且被分析的元素(或化合物)種類愈多,需要的標樣數(shù)量就愈多。
2. 基本參數(shù)法:根據(jù)儀器的有關參數(shù)和元素原子間基體效應的基本數(shù)據(jù)等依靠理論計算和對純元素(或純化合物)試劑的測定求取(5)式中的影響因子,實現(xiàn)定量分析。由于儀器結構變化等種種原因,此種方法的定量精度尚不夠高,一般用于無標樣時作半定量分析。
3. 理論α系數(shù)法:此法介于上述兩種之間,現(xiàn)已日趨成熟并已實用化,在X熒光光譜儀和采用半導體探測器的較高檔的X熒光能譜儀中,均已做成定量分析軟件普遍采用。采用此種定量分析方法顯著的優(yōu)點是可以大大減少儀器標定用的標樣數(shù)目,一般用3—5個標樣即可實現(xiàn)正確的多元素定量分析。從而大大的減少了標樣制作和分析的工作量及費用,特別是在環(huán)保、生物試體分析等制作標樣十分困難的應用領域,不可能采用需要眾多標樣的經驗系數(shù)法,理論α系數(shù)法具有廣闊的應用前景。
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