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描述:測(cè)試膜:又名X射線熒光光譜儀樣品薄膜,邁拉膜,麥拉膜,XRF測(cè)試薄膜,XRF樣品膜,樣品薄膜,EDX薄膜,EDX樣品薄膜,ROHS檢測(cè)膜,光譜儀樣品薄膜;是應(yīng)用于X熒光光譜儀的用于保留液體、粉末、泥漿或固體樣本在樣本杯內(nèi)的物質(zhì)。專用樣品薄膜是使用方便簡(jiǎn)捷,無污染的測(cè)試用樣品薄膜,廣泛應(yīng)用于Elite、fischer、牛津、博曼、先鋒、日立、天瑞等各種品牌的EDX/XRF光譜儀。
廠商性質(zhì)
經(jīng)銷商更新時(shí)間
2024-04-27訪問量
1392品牌 | 其他品牌 | 價(jià)格區(qū)間 | 面議 |
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產(chǎn)地類別 | 國(guó)產(chǎn) | 應(yīng)用領(lǐng)域 | 醫(yī)療衛(wèi)生,化工,生物產(chǎn)業(yè),電子,印刷包裝 |
測(cè)試膜:又名X射線熒光光譜儀樣品薄膜,邁拉膜,麥拉膜,XRF測(cè)試薄膜,XRF樣品膜,樣品薄膜,EDX薄膜,EDX樣品薄膜,ROHS檢測(cè)膜,光譜儀樣品薄膜;是應(yīng)用于X熒光光譜儀的用于保留液體、粉末、泥漿或固體樣本在樣本杯內(nèi)的物質(zhì)。專用樣品薄膜是使用方便簡(jiǎn)捷,無污染的測(cè)試用樣品薄膜,廣泛應(yīng)用于Elite、fischer、牛津、博曼、先鋒、日立、天瑞等各種品牌的EDX/XRF光譜儀。
光譜儀樣品薄膜 測(cè)試膜 XRF樣品膜 光譜儀樣品薄膜
常用的鎳銀或鎳金層一般1~3微米。鎳層較厚, 要起阻擋層作用。
另外鍍的方法上有電鍍和EN鍍,鍍層表面質(zhì)量不一樣。
分立半導(dǎo)體器件的電鍍一般采用純錫或錫基和金電鍍,這幾年由于歐洲RoHS指令生效,純錫電鍍較為流行。純錫電鍍有Wisker的問題,所以鍍層厚度的最小值一般要求超過8微米,并配合150C回火。
不同的封裝工藝,對(duì)鍍層的要求不盡一樣,業(yè)界沒有固定的標(biāo)準(zhǔn)。只要能做到滿足可靠性就可以了,200-600微英寸。
產(chǎn)品分類
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