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描述:XTU-50B X射線熒光譜儀XTU系列測厚儀雖然結構緊湊,但是都有大容量的開槽設計樣品腔,即使超過樣品腔尺寸的工件也可以測試。搭配微聚焦射線管和*光路設計,以及變焦算法裝置,可測試極微小和異形樣品。檢測78種元素鍍層·0.005um檢出限·小測量面積0.002mm2·深凹槽可達90mm。
廠商性質
經銷商更新時間
2024-04-27訪問量
1008品牌 | 其他品牌 | 價格區(qū)間 | 10萬-20萬 |
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產地類別 | 國產 | 應用領域 | 醫(yī)療衛(wèi)生,化工,生物產業(yè),電子,印刷包裝 |
XTU-50B X射線熒光譜儀是一款設計結構緊湊,模塊精密化程度*的鍍層測厚儀,采用了下照式C型腔體設計,不但可以測量各種微小樣品,即使大型超出樣品腔尺寸的工件也可測量,是一款測量涂鍍層成分及厚度性價比高、適用性強的機型。
應用領域
線路板、引線框架及電子元器件接插件檢測
鍍純金、K金、鉑、銀等各種飾品的膜層成分和厚度分析
手表、精密儀表制造行業(yè)
釹鐵硼磁鐵上的Ni/Cu/Ni/FeNdB
汽車、五金、電子產品等緊固件的表面處理檢測
衛(wèi)浴產品、裝飾把手上的Cr/Ni/Cu/CuZn(ABS)
電鍍液的金屬陽離子檢測
XTU-50B X射線熒光譜儀性能優(yōu)勢:
下照式設計:可以快速方便地定位對焦樣品。
無損變焦檢測:可對各種異形凹槽進行無損檢測,凹槽深度范圍0-90mm.
微聚焦射線裝置:可檢測面積小于0.002mm2的樣品,可測試各微小的部件。
高效率的接收器:即使測試0.01mm2以下的樣品,幾秒鐘也能達到穩(wěn)定性。
精密微型滑軌:快速定位樣品。
EFP*算法軟件:多層多元素,甚至有同種元素在不同層也難不倒EFP算法軟件。
項 目 參 數(shù)
測量元素范圍 Cl(17)-U(92)
涂鍍層分析范圍 各種元素及有機物
分析軟件 EFP,可同時分析23層鍍層,24種元素,不同層有相同元素也可分析
軟件操作 人性化封閉軟件,自動提示校正和步驟,避免操作錯誤
X射線裝置 W靶微聚焦加強型射線管
準直器 ? 0.05 mm ;? 0.1 mm;? 0.2 mm;? 0.5 mm;準直器任意選擇一種
近測距光斑擴散度 10%
測量距離 具有距離補償功能,可改變測量距離,能測量凹凸異型樣品,變焦距離0-30mm(特殊要求可以升級到90mm)
樣品觀察 1/2.5彩色CCD,變焦功能
對焦方式 高敏感鏡頭,手動對焦
放大倍數(shù) 光學38-46X,數(shù)字放大40-200倍
樣品臺尺寸 500mm*360mm
移動方式 高精密XY手動滑軌
可移動范圍 50mm*50mm
隨機標準片 十二元素片、Ni/Fe 5um、Au/Ni/Cu 0.1um/2um
其它附件 聯(lián)想電腦一套、噴墨打印機、附件箱
項 目 | 參 數(shù) |
測量元素范圍 | Cl(17)-U(92) |
涂鍍層分析范圍 | 各種元素及有機物 |
分析軟件 | EFP,可同時分析23層鍍層,24種元素,不同層有相同元素也可分析 |
軟件操作 | 人性化封閉軟件,自動提示校正和步驟,避免操作錯誤 |
X射線裝置 | W靶微聚焦加強型射線管 |
準直器 | ? 0.05 mm ;? 0.1 mm;? 0.2 mm;? 0.5 mm;準直器任意選擇一種 |
近測距光斑擴散度 | 10% |
測量距離 | 具有距離補償功能,可改變測量距離,能測量凹凸異型樣品,變焦距離0-30mm(特殊要求可以升級到90mm) |
樣品觀察 | 1/2.5彩色CCD,變焦功能 |
對焦方式 | 高敏感鏡頭,手動對焦 |
放大倍數(shù) | 光學38-46X,數(shù)字放大40-200倍 |
樣品臺尺寸 | 500mm*360mm |
移動方式 | 高精密XY手動滑軌 |
可移動范圍 | 50mm*50mm |
隨機標準片 | 十二元素片、Ni/Fe 5um、Au/Ni/Cu 0.1um/2um |
其它附件 | 聯(lián)想電腦一套、噴墨打印機、附件箱 |
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